黑體開始發展的是高溫黑體，早在20世紀50年代，由于光學高溫計的應用，當時的蘇聯和英國已經研制出了黑體爐，*高工作溫度可以達到2500℃。20世紀 60年代，日本生產出臥式黑體爐，*高工作溫度為2200℃；同年代，我國也研制出臥式黑體爐，工作溫度為900～3200℃。在20世紀60年代，中溫黑體就有人開始研究，因為當時的技術條件限制，對黑體技術（如黑體腔、等溫黑體腔、黑體發射率等）認識不足，甚至將熱電偶檢定爐的中間放置一個靶子就看作是黑體。自從美國在越南戰爭**使用紅外技術，成功地偵察到密林中的胡志明小道后（注：當時胡志明小道是運輸線），拉開了紅外技術在**上應用的序幕。隨后，各國都開展了紅外偵察、紅外偽裝、紅外制導、紅外誘餌、空中防衛等技術的研究工作，這就促進了對黑體技術的研究，尤其是對中低溫黑體的研究。因此國外在20世紀 80年代就已經有低溫黑體，我國對低溫黑體的研究，是從20世紀90開始。近 30年來，紅外技術已經廣泛地應用于民用，如紅外資源衛星、紅外氣象衛星、紅外加熱、紅外干燥、醫用紅外、紅外測溫等，同時開始了民用黑體產品的研究。尤其是近20年來，紅外溫度計的廣泛應用，作為紅外溫度計檢定用的主要設備－黑體的市場需求量增加，這促進了黑體技術向產品化傳化的進度。對黑體技術的研究，尤其是對黑體發射率技術的研制，從20世紀50年代開始，一直是斷斷續續地進行著。國內一些大學，對黑體發射率進行研究，并根據輻射換熱原理，對當時的黑體產品研究出一套發射率的計算方法。同時，形成了對圓柱形黑體腔，腔體長度和腔口之比（稱為形腔比）為一個固定的模式。1998年，在國防計量科研課題的研究中，專家在基于等溫和漫反射的基礎上，應用輻射換熱原理，導出了黑體發射率全新的計算公式，從理論上證明了只要黑體腔內表面溫度均勻且為漫反射，黑體的發射率只與黑體的腔口面積與內表面面積之比、黑體腔內表面發射率有關，而與黑體的形狀、黑體的溫度無關，系統闡述了黑體發射率的理論，使得對黑體發射率理論的研究，向前邁進了一步，同時對于黑體的研制和生產，有著極大的指導意義。對于腔式黑體，也是一個逐步發展過程。從開始研制出雛形黑體，到開始重視形腔比，因此改進黑體腔按照一定的形腔比設計，將黑體的性能進行提高；到開始重視黑體的等溫段，盡量提高黑體的等溫區域，將黑體的性能進一步提高；到目前為止，應用黑體發射率的理論計算公式指出的改進途徑，使黑體的性能又得到提高；這就是一個不斷發展和不斷完善的過程。在黑體的設計上，人們對于黑體的等溫特性越來越重視，黑體腔內表面的溫度均勻性已經作為黑體設計主要技術指標之一；因此對于有的黑體內表面溫度均勻性較好的黑體，又稱為“等溫黑體”。對于黑體內表面溫度均勻性的要求，將熱管技術應用于黑體，黑體內表面等溫效果很好，因此近代使用熱管技術研制出的黑體，稱為熱管黑體。熱管黑體是等溫黑體的一種。隨著科學技術發展，需要更高精度的黑體作為標準輻射源，尤其在300℃以下溫度段。因此又發展了高精度的黑體，這些黑體輻射溫度的準確度在（0.1～0.5）℃和0.01℃分別率。

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黑體的發展史